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13392868367 / 13714498721X光管是波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)最核心的部件之一,影响光管性能的主要参数有功率、电压、电流、铍窗膜厚度、阳极靶材、阴极灯丝等,其性能很大程度影响了仪器的最终性能。在高压下,电子从灯丝表面逸出,并在电场作用下打到阳极靶材上,激发出初级X射线。在这个过程中,电子动能...
在钛酸钡生产过程中,非常重要指标:钡钛摩尔比,简称钡钛比。钡钛比直接影响钛酸钡的四方度,进而影响钛酸钡的介电常数和绝缘电阻。对于高质量的钛酸钡粉体,钡钛比的控制精度要求较高,一般控制精度要求小于0.001。通常是用化学滴定法检测出BaTiO3中BaO和TiO2的含量,就可计算Ba/Ti的摩尔比。但化学滴定法的精确程度只有0.002左右,且操作人员和环境对误差的影响大,不能满足钛酸钡中Ba/Ti摩尔比的要求。也可借助仪器设备(如ICP-OES)精确测量Ba和Ti的元素含量,再计...
等离子体发射光谱分析法是光谱分析技术中,以等离子体炬作为激发光源的一种发射光谱分析技术。其中以电感耦合等离子体(inductivelycoupledplasma,简称为ICP)作为激发光源的发射光谱分析方法,简称为ICP-OES,是光谱分析中研究zui为深入和应用、有效的分析技术之一。电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-OES的分析原理:电感耦合等离子体焰矩温度可达6000~10000摄氏度,当将试样由进样器引入雾化器,并被氩载气带入焰矩时,则试样中组分被原子化、电离、激发,以...
WDX波长色散元素分析仪是一种常用的科学仪器,用于进行材料中元素成分的定性和定量分析。它利用波长色散原理,通过衍射晶体将不同波长的X射线分离出来,并通过检测器对其进行测量和分析。WDX波长色散元素分析仪的核心部件是一个衍射晶体,通常使用单晶体或多晶体作为衍射介质。这些晶体能够将入射的X射线按照不同的波长进行衍射,形成一系列的衍射线。每条衍射线对应着一个特定波长的X射线,而每个元素都有其衍射线谱图。通过测量和分析这些衍射线的位置和强度,可以确定材料中存在的元素及其相对含量。在分...
快速热裂解RoHS检测仪是一种用于检测电子产品中有害物质含量的*仪器。RoHS(限制使用某些有害物质指令)是欧盟针对电子和电气设备中有毒有害物质的法规要求,旨在保护人类健康和环境。传统的RoHS检测方法通常需要耗费大量时间和资源,因为它们涉及到样品的准备、化学处理和仪器分析等步骤。然而,快速热裂解RoHS检测仪的出现解决了这个问题。它利用高温和气体流动的原理迅速将样品中的有害物质分解,并将其释放到气相中。随后,通过气相色谱-质谱联用技术(GC-MS)进行定性和定量分析。这种仪...
XRF与ICP-OES的区别在实际生产、研发的过程中常常需要对未知物成分进行分析,通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分,帮助实验人员对样品进行定性定量分析和鉴别。目前,常见的成分分析设备:XRF和ICP,本文将为大家讲述这两者的区别。X射线荧光光谱仪(XRF)XRF指的是X射线荧光光谱仪,一种可以同时对多元素进行快速测定的仪器。基本原理:初级X射线与样品表面原子核外电子相互作用,发生能级跃迁后发射出特征X射线。特征X射线是一种电磁波,同时具备能量和波长两种特性...