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镀层测厚仪x射线光谱分析仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型镀层光谱分析仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。